．采用非接触式量测技术，不破坏物体表面
．搭配高精度运动控制平台，客户可任意采用点/线/面量测法进行产品3D数据分析
．量测点距(Resolution)及数量可程控，而不受3D 面扫之硬件限制
．适用产品性广，除吸光材质以外，所有产品皆适用